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Electronics
PCB 검사
PCB 패널 결함 검사
PCB 실장 부품 검사
뉴로클의 소프트웨어를 이용하여 PCB 패널 생산단계의 핵심공정인 패턴공정 중에 발생하는 쇼트, 바이트, 핀 홀, 오픈 등의 비정형적인 결함 부품 실장을 검사할 수 있습니다.
PCB 공정 중 적합한 부품의 실장 유무 검사 이외에도 부품 개수 파악, 부품 위치 적합성 판독에도 용이합니다.
S사 PCB 결함 검사
PCB 검사
MLCC 검사
MLCC 최종 외관 검사
현재 MLCC 검사는 전통적인 검사방식으로 수행되고 있으며, 이는 많은 오,과검을 초래하고 있습니다.
뉴로클의 소프트웨어를 이용하여 크랙, 미도금 등 다양한 유형의 불량들을 검출하고 오과검율을 최소화 할 수 있습니다.
S사 MLCC 외관 검사
MLCC 검사
CCM 검사
Lens Module 검사
CCM의 광학부분을 담당하는 렌즈 모듈은 카메라의 핵심 구성품입니다.
뉴로클의 소프트웨어를 통해 렌즈 조립 공정 시 발생하는 본딩의 상태를 검사하고, 렌즈의 스크래치와 얼룩과 같은 오염을 검출할 수 있습니다.
L사 카메라 모듈 검사
Camera Module 검사
Solar Cell 검사
패널 결함 검사
Solar cell의 패널은 형태가 다양하고 복잡한 유형의 결함들이 많습니다. Solar cell 검사는 대부분 PL/EL 시스템을 활용해 취득 된 이미지를 육안으로 판정하고 있습니다.
뉴로클의 소프트웨어로 dead cell, broken cell, hotspot, micro crack과 같은 불량 유형들을 학습하여 검사 자동화를 실현하고 검사의 품질을 향상시킬 수 있습니다.
H사 EL 검사
Solar Cell 검사
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