비정형 미세 결함도 정확하게
검출하는 전기전자 비전검사

비정형 미세 결함도 정확하게 검출하는 전기전자 비전검사

뉴로클의 비전검사는 초소형 부품의 미세 결함부터 디스플레이 패널의 비정형 불량까지 룰베이스 방식으로는 구분하기 어려웠던 결함을 정밀 검출합니다. 이를 통해 일관된 판정 기준을 제공하며 과검과 미검을 최소화하고 생산 수율을 극대화합니다.

뉴로클의 비전검사는 반도체 공정 중 발생하는 미세 스크래치, 얼룩, 패턴 이상과 같이 육안으로는 구분하기 어려운 결함까지 정밀하게 검출합니다. 이를 통해 과검출은 줄이고, 놓치기 쉬운 진성 불량은 안정적으로 선별합니다.

seconductor ai vision inspection

뉴로클과
함께하는 고객사

뉴로클과 함께하는 고객사

검사 적용 분야

MLCC·기판부터 디스플레이까지 AI 비전검사 적용 영역

정밀 전자부품 (MLCC·커넥터)

MLCC 내부 결함 검사

C-type 커넥터 불량 검사

소형 전자 부품의 본드 도포 검사

네트워크 커넥터 내부 불량 검사

콘덴서 부품 결함 검사

정밀 전자부품 (MLCC·커넥터)

MLCC 내부 결함 검사

C-type 커넥터 불량 검사

소형 전자 부품의 본드 도포 검사

네트워크 커넥터 내부 불량 검사

콘덴서 부품 결함 검사

PCB (기판)

FPCB 표면 검사

PCB 칩 분류 검사

PCB 에폭시 영역 검출 검사

PCB (기판)

FPCB 표면 검사

PCB 칩 분류 검사

PCB 에폭시 영역 검출 검사

디스플레이 패널

무라(MURA) 검사

디스플레이 필터 검사

F-MASK 외관 불량 검사

LED 패널 이물 검사

디스플레이 패널

무라(MURA) 검사

디스플레이 필터 검사

F-MASK 외관 불량 검사

LED 패널 이물 검사

정밀 전자부품 (MLCC·커넥터)

MLCC 내부 결함 검사

C-type 커넥터 불량 검사

소형 전자 부품의 본드 도포 검사

네트워크 커넥터 내부 불량 검사

콘덴서 부품 결함 검사

PCB (기판)

FPCB 표면 검사

PCB 칩 분류 검사

PCB 에폭시 영역 검출 검사

디스플레이 패널

무라(MURA) 검사

디스플레이 필터 검사

F-MASK 외관 불량 검사

LED 패널 이물 검사

Use case

뉴로클 AI 비전검사 전기전자 적용 사례

정밀 전자부품 (MLCC·커넥터)

내부 결함과 미세 핀, 도금 및 도포 상태를 정밀하게 검사하여 불량이 후공정으로 유입되는 것을 방지합니다.

정밀 전자부품 (MLCC·커넥터)

반도체 제조 공정 투입 전, 웨이퍼 내 미세한 불량을 검출하여 무결점 제품을 공정에 제공합니다.

seconductor ai vision inspection

MLCC 내부 결함 검사

외관상 판단하기 힘든 MLCC 내부 비정형 결함을 검출합니다.

seconductor ai vision inspection

C-Type 커넥터 불량 검사

커넥터 표면의 도금 및 내부 핀의 비정형 불량을 딥러닝 비전검사로 감지합니다.

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MLCC 내부 결함 검사

외관상 판단하기 힘든 MLCC 내부 비정형 결함을 검출합니다.

seconductor ai vision inspection

C-Type 커넥터 불량 검사

커넥터 표면의 도금 및 내부 핀의 비정형 불량을 딥러닝 비전검사로 감지합니다.

PCB (기판)

FPCB 표면 결함과 PCB 칩을 정확하게 식별하여 검사 정확도를 높이고 품질의 일관성을 확보합니다.

PCB (기판)

패턴의 파티클, 이물, 결함 등을 검사하여 회로 형성의 정확도를 높입니다.

seconductor ai vision inspection

FPCB 표면 검사

초미세 부품인 FPCB의 미세 결함을 정밀 검출합니다.

seconductor ai vision inspection

PCB 칩 분류 검사

PCB 내 칩 영역을 찾아 제조사를 분류합니다.

seconductor ai vision inspection

FPCB 표면 검사

초미세 부품인 FPCB의 미세 결함을 정밀 검출합니다.

seconductor ai vision inspection

PCB 칩 분류 검사

PCB 내 칩 영역을 찾아 제조사를 분류합니다.

디스플레이 패널

패널 내 무라 결함을 포함한 공정 내 주요 결함을 정밀하게 검출해 미검과 과검 발생을 최소화합니다.

디스플레이 패널

고해상도 이미지에 대한 미세 불량 검출을 통하여 미검과 과검 발생을 최소화합니다.

seconductor ai vision inspection

무라(MURA) 검사

패널 표면에서 다양한 형태의 무라를 찾고, 유형을 분류합니다.

seconductor ai vision inspection

디스플레이 필터 검사

패턴 내 미세 결함이 있는 영역을 정확하게 검출합니다.

seconductor ai vision inspection

무라(MURA) 검사

패널 표면에서 다양한 형태의 무라를 찾고, 유형을 분류합니다.

seconductor ai vision inspection

디스플레이 필터 검사

패턴 내 미세 결함이 있는 영역을 정확하게 검출합니다.

주요 특징

뉴로클이 제공하는 전기전자 비전검사의 차별점

초미세 결함까지 식별하는 압도적인 검사 성능

사람의 눈으로 식별하기 어려운 마이크로 단위의 미세한 불량까지 완벽하게 잡아내어, 공정 내 결함 유출을 차단합니다.

초미세 결함까지 식별하는 압도적인 검사 성능

사람의 눈으로 식별하기 어려운 마이크로 단위의 미세한 불량까지 완벽하게 잡아내어, 공정 내 결함 유출을 차단합니다.

초미세 결함까지 식별하는 압도적인 검사 성능

사람의 눈으로 식별하기 어려운 마이크로 단위의 미세한 불량까지 완벽하게 잡아내어, 공정 내 결함 유출을 차단합니다.

불규칙한 비정형 결함도 정확하게 검출

형태와 크기가 매번 달라 기존 검사 방식으로 판별하기 까다로운 비정형 불량을 놓치지 않고 정밀 검출합니다.

불규칙한 비정형 결함도 정확하게 검출

고해상도 이미지도 리사이징 없이 원본 해상도를 유지한 상태로 검사 모델을 구축할 수 있어, 결함 소실 없이 정확한 검출할 수 있습니다.

불규칙한 비정형 결함도 정확하게 검출

형태와 크기가 매번 달라 기존 검사 방식으로 판별하기 까다로운 비정형 불량을 놓치지 않고 정밀 검출합니다.